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GBT 2423.25-2008 電工電子產(chǎn)品 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z／AM：低溫／低氣壓綜合試驗(yàn).pdf
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《GB/T 2423.26—2008》是中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)發(fā)布的環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)，等同于國(guó)際電工委員會(huì)標(biāo)準(zhǔn) IEC 60068-2-41:1976。該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了電工電子產(chǎn)品在高溫與低氣壓綜合環(huán)境下的試驗(yàn)方法，旨在評(píng)估產(chǎn)品在極端環(huán)境下的適應(yīng)性和可靠性。
該標(biāo)準(zhǔn)適用于散熱和非散熱試驗(yàn)樣品，主要用于模擬產(chǎn)品在貯存或使用過程中可能遇到的高溫低壓環(huán)境，如高空、高原地區(qū)等。
本試驗(yàn)適用于：
電子元器件、設(shè)備及其他產(chǎn)品；
需要在高溫和低氣壓綜合環(huán)境下進(jìn)行性能驗(yàn)證的產(chǎn)品；
只有在單一環(huán)境試驗(yàn)無法模擬真實(shí)綜合影響時(shí)才推薦使用本試驗(yàn)。
溫度：根據(jù)產(chǎn)品規(guī)范選擇，常見的有 55℃、85℃、155℃ 等；
氣壓：范圍從 4 kPa（40 mbar）到 70 kPa（700 mbar），模擬不同海拔高度；
持續(xù)時(shí)間：通常為 2 小時(shí)或 16 小時(shí)，從樣品溫度穩(wěn)定后開始計(jì)算。
試驗(yàn)箱：必須能同時(shí)控制溫度和氣壓，并滿足：
溫度控制精度：±3℃（≤100℃）或 ±5℃（>100℃）；
壓力變化速率：≤10 kPa/min；
溫度變化速率：≤1℃/min（恢復(fù)階段）；
安裝方式：散熱樣品應(yīng)優(yōu)先在無強(qiáng)迫空氣循環(huán)的試驗(yàn)箱中進(jìn)行；
防污染：恢復(fù)氣壓時(shí)應(yīng)避免外部空氣污染試驗(yàn)箱內(nèi)環(huán)境。
試驗(yàn)流程主要包括以下幾個(gè)階段：
預(yù)處理（可選）：按產(chǎn)品規(guī)范進(jìn)行；
初始檢測(cè)：檢查樣品外觀、電氣和機(jī)械性能；
條件試驗(yàn)：
將樣品置于試驗(yàn)箱中，逐步升溫至目標(biāo)溫度；
溫度穩(wěn)定后，逐步降壓至目標(biāo)氣壓；
在高溫低壓條件下保持規(guī)定時(shí)間；
中間檢測(cè)（可選）：在試驗(yàn)過程中對(duì)樣品進(jìn)行功能檢測(cè)；
恢復(fù)：逐步恢復(fù)至常壓和常溫；
最后檢測(cè)：再次檢查樣品的各項(xiàng)性能。
壓力恢復(fù)：速率不超過 10 kPa/min，期間不控制溫度；
溫度恢復(fù)：速率不超過 1℃/min，逐步降至實(shí)驗(yàn)室環(huán)境溫度；
樣品狀態(tài)：恢復(fù)期間樣品可保持在試驗(yàn)箱內(nèi)，或按規(guī)范處理。
散熱與非散熱樣品區(qū)別：
散熱樣品在試驗(yàn)中通電或加載，會(huì)產(chǎn)生熱量；
非散熱樣品則不會(huì)；
試驗(yàn)順序：先升溫后降壓，恢復(fù)時(shí)先恢復(fù)氣壓再降溫；
一次只能試驗(yàn)一個(gè)散熱樣品，避免相互干擾；
不適用于氣壓 ≤1 kPa 的極端低壓環(huán)境；
試驗(yàn)曲線圖：標(biāo)準(zhǔn)中提供了非散熱和散熱樣品的試驗(yàn)過程曲線圖（圖1a 和 圖1b），供參考執(zhí)行。
《GB/T 2423.26—2008》為電工電子產(chǎn)品在高溫與低氣壓綜合環(huán)境下的可靠性驗(yàn)證提供了標(biāo)準(zhǔn)化方法。通過本試驗(yàn)，制造商可以更準(zhǔn)確地評(píng)估產(chǎn)品在極端環(huán)境下的性能，提升產(chǎn)品的環(huán)境適應(yīng)能力和市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)力。
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